今天小编给大家简单介绍一下开尔文测试座，感兴趣的朋友一起往下看吧。

开尔文测试座用于开尔文四线检测（四端子检测、四线检测、4点探针法），用于芯片的快速验证、测试、老化，适用于SOP封装的模拟电路测试，适用SOP、PSOP、QSOP、SSOP、TSSOP等封装检测等，工作温度为-40至140度，适用于间距0.4mm-1.27mm的产品，其寿命30万次以上。

开尔文测试座用于SOP封装的模拟电路测试，电流测试值更准确。SOP封装的每个针脚均为２点接触，可以根据客户的要求设计转接模组，根据客户的需求，也可以定制PCB板配套出售。其他封装，如QFN或DFN也可以定制开尔文测试座。

那么以上内容就是关于开尔文测试座的相关介绍，希望有助于大家进一步了解开尔文测试座，有需要的话可以联系我们哦~