芯片测试行业一直被认为是芯片密封测试的一部分。纵观国内芯片行业的整体情况，传统的综合封装测试企业无法满足当前的需求。今天小编从以下几个方面给大家简单介绍一下QFN40L-5x5测试座。

1、QFN40L-5x5测试座适用范围：

适用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封装，用于芯片的快速验证、测试、老化，压盖式设计供双扣手工或自动加载或卸载机构，适用于间距0.4mm-1.27mm产品，产品尺寸规格DFN.QFN(1*1-8*8)

2、QFN40L-5x5测试座的机械性能：

测试座材料：Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530

座头材料：AL，Cu，POM

探针类型：弹簧探针

工作温度：-40 ~ 140度

探针寿命：10万次（开尔文探针寿命：30W次）

弹簧弹力：20g ~ 30g per Pin

3、QFN40L-5*5测试座的电性能

电流：2A （单PIN支持1A）

电阻：50mΩ

频宽： > 20GHZ @-1db

以上就是QFN40L-5x5测试座的相关介绍，希望对大家进一步了解芯片测试座有所帮助，有需要芯片测试座的朋友可以直接联系咨询我们哦~