DFN开尔文测试座
适用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封装；
用于芯片的快速验证，测试. 老化；
压盖式设计供双扣手工或自动加载或卸载机构；
适用于间距0.4mm-1.27mm产品，产品尺寸规格DFN.QFN(1*1-8*8)。
机械性能
测试座材料：Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530
座头材料：AL，Cu，POM
探针类型：弹簧探针
工作温度：-40 ~ 140度
开尔文探针寿命：30W次
弹簧弹力：20g ~ 30g per Pin
电性能
电流：2A （单PIN支持1A）
电阻：50mΩ
频宽：> 20GHZ @-1db
DFN开尔文测试座
适用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封装；
用于芯片的快速验证，测试. 老化；
压盖式设计供双扣手工或自动加载或卸载机构；
适用于间距0.4mm-1.27mm产品，产品尺寸规格DFN.QFN(1*1-8*8)。
机械性能
测试座材料：Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530
座头材料：AL，Cu，POM
探针类型：弹簧探针
工作温度：-40 ~ 140度
开尔文探针寿命：30W次
弹簧弹力：20g ~ 30g per Pin
电性能
电流：2A （单PIN支持1A）
电阻：50mΩ
频宽：> 30GHZ @-1db
DFN开尔文测试座
适用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封装；
用于芯片的快速验证，测试. 老化；
压盖式设计供双扣手工或自动加载或卸载机构；
适用于间距0.4mm-1.27mm产品，产品尺寸规格DFN.QFN(1*1-8*8)。
机械性能
测试座材料：Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530
座头材料：AL，Cu，POM
探针类型：弹簧探针
工作温度：-40 ~ 140度
开尔文探针寿命：30W次
弹簧弹力：20g ~ 30g per Pin
电性能
电流：2A （单PIN支持1A）
电阻：50mΩ
频宽：> 20GHZ @-1db
DFN开尔文测试座
适用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封装；
用于芯片的快速验证，测试. 老化；
压盖式设计供双扣手工或自动加载或卸载机构；
适用于间距0.4mm-1.27mm产品，产品尺寸规格DFN.QFN(1*1-8*8)。
机械性能
测试座材料：Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530
座头材料：AL，Cu，POM
探针类型：弹簧探针
工作温度：-40 ~ 140度
开尔文探针寿命：30W次
弹簧弹力：20g ~ 30g per Pin
电性能
电流：2A （单PIN支持1A）
电阻：50mΩ
频宽：> 20GHZ @-1db
