开尔文测试座


DFN开尔文测试座

适用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封装;

用于芯片的快速验证,测试. 老化;

压盖式设计供双扣手工或自动加载或卸载机构;

适用于间距0.4mm-1.27mm产品,产品尺寸规格DFN.QFN(1*1-8*8)。

机械性能

测试座材料:Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530

座头材料:AL,Cu,POM

探针类型:弹簧探针

工作温度:-40 ~ 140度

开尔文探针寿命:30W次

弹簧弹力:20g ~ 30g per Pin

电性能

电流:2A (单PIN支持1A)

电阻:50mΩ

频宽:> 20GHZ @-1db


DFN开尔文测试座

适用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封装;

用于芯片的快速验证,测试. 老化;

压盖式设计供双扣手工或自动加载或卸载机构;

适用于间距0.4mm-1.27mm产品,产品尺寸规格DFN.QFN(1*1-8*8)。

机械性能

测试座材料:Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530

座头材料:AL,Cu,POM

探针类型:弹簧探针

工作温度:-40 ~ 140度

开尔文探针寿命:30W次

弹簧弹力:20g ~ 30g per Pin

电性能

电流:2A (单PIN支持1A)

电阻:50mΩ

频宽:> 30GHZ @-1db

DFN开尔文测试座

适用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封装;

用于芯片的快速验证,测试. 老化;

压盖式设计供双扣手工或自动加载或卸载机构;

适用于间距0.4mm-1.27mm产品,产品尺寸规格DFN.QFN(1*1-8*8)。

机械性能

测试座材料:Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530

座头材料:AL,Cu,POM

探针类型:弹簧探针

工作温度:-40 ~ 140度

开尔文探针寿命:30W次

弹簧弹力:20g ~ 30g per Pin

电性能

电流:2A (单PIN支持1A)

电阻:50mΩ

频宽:> 20GHZ @-1db


DFN开尔文测试座

适用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封装;

用于芯片的快速验证,测试. 老化;

压盖式设计供双扣手工或自动加载或卸载机构;

适用于间距0.4mm-1.27mm产品,产品尺寸规格DFN.QFN(1*1-8*8)。

机械性能

测试座材料:Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530

座头材料:AL,Cu,POM

探针类型:弹簧探针

工作温度:-40 ~ 140度

开尔文探针寿命:30W次

弹簧弹力:20g ~ 30g per Pin

电性能

电流:2A (单PIN支持1A)

电阻:50mΩ

频宽:> 20GHZ @-1db


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