今天小编带大家了解一下测试电子LGA座特性和性能参数介绍。

LGA测试座的特点和性能参数：

包装设计兼容，只要更换座椅，就可以兼容测试TSOP包装和LGA包装的FLASH测试。大小兼容设计，只要更换限位框，就可以测试不同尺寸的LGAFLASH；

主控板与设计兼容，只要更换主控板的主控IC，就可以实现核心状态。采用一拖四架设计，省去了外置HUB，每台电脑可同时量产16PCSFlash芯片，效率倍增；

LGA测试座的测试寿命可达20万次以上，是同类使用寿命的10倍以上；探头可以更换，维护方便，成本低；采用手动翻盖结构，操作方便；

上盖压板采用特殊结构，下压稳定，IC压力均匀，不移位；高精度定位槽，确保LGA定位准确，生产效率高；整机24小时工作性能稳定可靠，是FLASH经销商和U盘厂的好帮手！

勘探材料：铍铜(标准)；

绝缘材料：FR-4.PPS等；

最小跳远pitch=0.4mm(引脚中心到中心的距离)；

快速交货：一天内最快交货。

LGA测试座主要功能：

清空和分类Flash。

格式化NandFlash，实际测试可以使用容量。

直接量产Flash，提高U盘生产效率。