ATE测试座(自动机台适用)适用于BGA, QFN, DFN, LGA, QFP, SOP等封装
用于芯片的快速验证,测试.
适用:平移式分选机,转塔式分选机
探针可更换,维修方便,成本低
适用于间距0.4mm-1.27mm产品尺寸规格DFN.QFN(1*1-8*8)
机械性能
测试座材料:Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530
座头材料:AL,Cu,POM
探针类型:弹簧探针
工作温度:-40 ~ 140度
探针寿命:30万次
弹簧弹力:20g ~ 30g per Pin
电性能
电流:2A (单PIN支持1A)
电阻:50mΩ
频宽:> 20GHZ @-1db
ATE测试座(自动机台适用)
适用于BGA, QFN, DFN, LGA, QFP, SOP等封装
用于芯片的快速验证,测试.
压盖式设计供手工或自动加载或卸载机构
探针可更换,维修方便,成本低
适用于间距0.4mm-1.27mm产品尺寸规格DFN.QFN(1*1-8*8)
机械性能
测试座材料:Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530
座头材料:AL,Cu,POM
探针类型:弹簧探针
工作温度:-40 ~ 140度
探针寿命:30万次
弹簧弹力:20g ~ 30g per Pin
电性能
电流:2A (单PIN支持1A)
电阻:50mΩ
频宽:> 20GHZ @-1db
ATE测试座(自动机台适用)适用于BGA, QFN, DFN, LGA, QFP, SOP等封装
用于芯片的快速验证,测试.
压盖式设计供手工或自动加载或卸载机构
探针可更换,维修方便,成本低
适用于间距0.4mm-1.27mm产品尺寸规格DFN.QFN(1*1-8*8)
机械性能
测试座材料:Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530
座头材料:AL,Cu,POM
探针类型:弹簧探针
工作温度:-40 ~ 140度
探针寿命:30万次
弹簧弹力:20g ~ 30g per Pin
电性能
电流:2A (单PIN支持1A)
电阻:50mΩ
频宽:> 20GHZ @-1db