ATE测试座


ATE测试座(自动机台适用)适用于BGA, QFN, DFN, LGA, QFP, SOP等封装

用于芯片的快速验证,测试. 

压盖式设计供手工或自动加载或卸载机构

探针可更换,维修方便,成本低

适用于间距0.4mm-1.27mm产品尺寸规格DFN.QFN(1*1-8*8)

机械性能

测试座材料:Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530

座头材料:AL,Cu,POM

探针类型:弹簧探针

工作温度:-40 ~ 140度

探针寿命:30万次

弹簧弹力:20g ~ 30g per Pin

电性能

电流:2A (单PIN支持1A)

电阻:50mΩ

频宽:> 20GHZ @-1db



ATE测试座(自动机台适用)适用于BGA, QFN, DFN, LGA, QFP, SOP等封装

用于芯片的快速验证,测试. 

适用:平移式分选机,转塔式分选机

探针可更换,维修方便,成本低

适用于间距0.4mm-1.27mm产品尺寸规格DFN.QFN(1*1-8*8)

机械性能

测试座材料:Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530

座头材料:AL,Cu,POM

探针类型:弹簧探针

工作温度:-40 ~ 140度

探针寿命:30万次

弹簧弹力:20g ~ 30g per Pin

电性能

电流:2A (单PIN支持1A)

电阻:50mΩ

频宽:> 20GHZ @-1db




 

ATE测试座(自动机台适用)

适用于BGA, QFN, DFN, LGA, QFP, SOP等封装

用于芯片的快速验证,测试. 

压盖式设计供手工或自动加载或卸载机构

探针可更换,维修方便,成本低

适用于间距0.4mm-1.27mm产品尺寸规格DFN.QFN(1*1-8*8)

机械性能

测试座材料:Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530

座头材料:AL,Cu,POM

探针类型:弹簧探针

工作温度:-40 ~ 140度

探针寿命:30万次

弹簧弹力:20g ~ 30g per Pin

电性能

电流:2A (单PIN支持1A)

电阻:50mΩ

频宽:> 20GHZ @-1db


ATE测试座(自动机台适用)适用于BGA, QFN, DFN, LGA, QFP, SOP等封装

用于芯片的快速验证,测试. 

压盖式设计供手工或自动加载或卸载机构

探针可更换,维修方便,成本低

适用于间距0.4mm-1.27mm产品尺寸规格DFN.QFN(1*1-8*8)

机械性能

测试座材料:Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530

座头材料:AL,Cu,POM

探针类型:弹簧探针

工作温度:-40 ~ 140度

探针寿命:30万次

弹簧弹力:20g ~ 30g per Pin

电性能

电流:2A (单PIN支持1A)

电阻:50mΩ

频宽:> 20GHZ @-1db



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