ATE测试座

适用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封装

用于芯片的快速验证，测试. 老化

压盖式设计供双扣手工或自动加载或卸载机构

适用于间距0.4mm-1.27mm产品，产品尺寸规格DFN.QFN(1*1-8*8)

适用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封装

用于芯片的快速验证，测试. 老化

压盖式设计供双扣手工或自动加载或卸载机构

适用于间距0.4mm-1.27mm产品，产品尺寸规格DFN.QFN(1*1-8*8)