QFN测试座


 ATE测试座


适用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封装

用于芯片的快速验证,测试. 老化

压盖式设计供双扣手工或自动加载或卸载机构

适用于间距0.4mm-1.27mm产品,产品尺寸规格DFN.QFN(1*1-8*8)

   

 ATE测试座


适用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封装

用于芯片的快速验证,测试. 老化

压盖式设计供双扣手工或自动加载或卸载机构

适用于间距0.4mm-1.27mm产品,产品尺寸规格DFN.QFN(1*1-8*8)

  

 ATE测试座


适用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封装

用于芯片的快速验证,测试. 老化

压盖式设计供双扣手工或自动加载或卸载机构

适用于间距0.4mm-1.27mm产品,产品尺寸规格DFN.QFN(1*1-8*8)

 ATE测试座


适用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封装

用于芯片的快速验证,测试. 老化

压盖式设计供双扣手工或自动加载或卸载机构

适用于间距0.4mm-1.27mm产品,产品尺寸规格DFN.QFN(1*1-8*8)

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