QFN测试座
ATE测试座
适用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封装
用于芯片的快速验证,测试. 老化
压盖式设计供双扣手工或自动加载或卸载机构
适用于间距0.4mm-1.27mm产品,产品尺寸规格DFN.QFN(1*1-8*8)
ATE测试座
适用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封装
用于芯片的快速验证,测试. 老化
压盖式设计供双扣手工或自动加载或卸载机构
适用于间距0.4mm-1.27mm产品,产品尺寸规格DFN.QFN(1*1-8*8)
ATE测试座
适用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封装
用于芯片的快速验证,测试. 老化
压盖式设计供双扣手工或自动加载或卸载机构
适用于间距0.4mm-1.27mm产品,产品尺寸规格DFN.QFN(1*1-8*8)
ATE测试座
适用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封装
用于芯片的快速验证,测试. 老化
压盖式设计供双扣手工或自动加载或卸载机构
适用于间距0.4mm-1.27mm产品,产品尺寸规格DFN.QFN(1*1-8*8)
适用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封装
用于芯片的快速验证,测试. 老化
压盖式设计供双扣手工或自动加载或卸载机构
适用于间距0.4mm-1.27mm产品,产品尺寸规格DFN.QFN(1*1-8*8)