DDR4-16位内存条测试座，导电胶结构
DDR内存条测试座
适用于DDR3,DDR4，DDR5,内存条颗粒测试
用于芯片的快速筛选，验证，测试，
采用手动翻盖式结构，操作方便高效.
测试不同尺寸的颗粒，更换限位框即可
可选探针和导电胶结构
探针可更换，维修方便，成本低
适用于DDR3 DDR4 DDR5
用于芯片的快速验证，测试.
适用于手测
有探针和导电胶2种导电结构选择
导正框可更换，多种尺寸兼容
提供8位及16位的测试治具
测试座材料： Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530
座头材料： AL，Cu，POM
探针类型： 弹簧探针/导电胶
工作温度： -45 ~ 125度
探针寿命： 30万次
弹簧弹力： 20g ~ 30g per Pin
电流： 1A （ 电阻： 50mΩ
频宽： > 3.6GHZ @-1db
DDR内存条测试座
适用于DDR3,DDR4,DDR5,内存条颗粒测试
用于芯片的快速筛选，验证，测试，
采用手动翻盖式结构，操作方便高效.
测试不同尺寸的颗粒，更换限位框即可
可选探针和导电胶结构
探针可更换，维修方便，成本低
DDR内存条测试座
适用于DDR3,DDR4，DDR5,内存条颗粒测试
用于芯片的快速筛选，验证，测试，
采用手动翻盖式结构，操作方便高效.
测试不同尺寸的颗粒，更换限位框即可
可选探针和导电胶结构
探针可更换，维修方便，成本低