SOC SOCKET
客制化IC测试架
适用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封装
用于芯片的快速验证，测试，烧录，老化
压盖式设计供手工或自动加载或卸载机构
适用于间距0.4mm-1.27mm产品
探针可更换，维修方便，成本低
客制化IC测试架
适用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封装
用于芯片的快速验证，测试，烧录，老化
压盖式设计供手工或自动加载或卸载机构
适用于间距0.4mm-1.27mm产品
探针可更换，维修方便，成本低
客制化IC测试架
适用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封装
用于芯片的快速验证，测试，烧录，老化
压盖式设计供手工或自动加载或卸载机构
适用于间距0.4mm-1.27mm产品
探针可更换，维修方便，成本低
客制化IC测试架
适用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封装
用于芯片的快速验证，测试，烧录，老化
压盖式设计供手工或自动加载或卸载机构
适用于间距0.4mm-1.27mm产品
探针可更换，维修方便，成本低
客制化IC测试架
适用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封装
用于芯片的快速验证，测试，烧录，老化
压盖式设计供手工或自动加载或卸载机构
适用于间距0.4mm-1.27mm产品
探针可更换，维修方便，成本低